بحث
خضع
المسح الهيليوم أيون المجهر, أيون, الثانوية الإلكترونات
العلامة ذات الصلة
معلومات أساسية
- القرار: 1195*498
- اسم: المسح الهيليوم أيون مجهر الإلكترونات الثانوية مجال أيون المجهر انعكاس - المجهر
- رخصة: استخدام شخصي
- تنسيق الملف: png
- حجم الملف: 135.47 KB
- صورة DPI: 72
- تم الرفع بواسطة: Neasuamjecemi
